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SCIEX OS軟件如何查看樣品采集時(shí)的真空狀態(tài)
來源:SCIEX | 作者:SCIEX | 發(fā)布時(shí)間: 2026-03-09 | 98 次瀏覽 | ?? **朗讀正文 ?? ? | 分享到:
通過比較正常與問題樣品的真空信息變化，可輔助判斷TOF分辨率下降是否由CAD GAS異常引起，或離子入口堵塞導(dǎo)致靈敏度降低。本文檔說明如何利用SCIEX OS軟件查看已采集數(shù)據(jù)時(shí)的真空狀態(tài).

通過比較正常樣品與問題樣品真空信息的變化，可以幫忙我們判斷是否由于CAD GAS的異常導(dǎo)致了TOF分辨率的下降；或者是因?yàn)殡x子入口（Orifice）堵導(dǎo)致了靈敏度的下降。本文檔介紹了如何利用OS軟件，打開已采集完成的數(shù)據(jù)，查看之前采集時(shí)的真空狀態(tài)。

01 SCIEX

從SCIEX  OS軟件的主界面進(jìn)入Explorer。


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02 SCIEX

打開一個(gè)使用相同質(zhì)譜方法采集的信號(hào)正常的歷史數(shù)據(jù)。

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03 SCIEX

**show后選擇Sample Information，打開樣品數(shù)據(jù)信息。

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04 SCIEX

從Sample Info 里MS Device Details: Start of Acquisition里找到樣品采集時(shí)質(zhì)譜的真空狀態(tài)。

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備注：質(zhì)譜方法里CAD值設(shè)置的不一樣，可能導(dǎo)致儀器采集時(shí)真空存在差異，可以從Method Parameters欄查看CAD的設(shè)置值是否相同。

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